AOTF近红外光谱仪在聚合物工业中的应用报告: 使用AOTF近红外光谱分析技术检测共挤吹膜样品的厚度

Brimrose推出Snap32!v3.0最新版本软件.

此软件可以控制Brimrose光谱分析仪的扫描过程,数据处理,并将数据用Brimrose专有BFF - 4格式保存.

使用AOTF近红外光谱分析技术检测共挤吹膜样品的厚度

Brimrose AOTF 自由空间近红外光谱分析仪用来对11个含有不同EVOH涂层厚度的共挤吹膜样品进行光谱数据扫描。该研究利用PLS1回归模型对光谱数据与EVOH的厚度进行关联。回归分析显示了良好的结果，并表示可通过光谱数据和回归模型相结合来测量EVOH的厚度。从模型中被删除的一些数据点作被为验证集，利用回归模型对这些数据点进行预测。预测结果是准确的，并证实，使用 Brimrose AOTF 自由空间近红外光谱分析仪根据光谱数据预测EVOH的厚度是完全可行的。

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